Kurzbeschreibung
Professionelles Rasterelektronenmikroskop (Scanning Electron Microscope, SEM) von JEOL für Anwendungen in Forschung, Materialanalyse und Industrie. Das Gerät stammt aus einem Laborbetrieb und wird aufgrund der fehlenden Systemperipherie als gebrauchtes Laborgerät mit unbekanntem technischem Gesamtzustand angeboten.
 
Produktbeschreibung
Zum Verkauf steht ein gebrauchtes JEOL JSM-6480LV Rasterelektronenmikroskop (SEM).
Das Rasterelektronenmikroskop stammt aus einem professionellen Laborbetrieb und war nach Angaben des Vorbesitzers bis zum Ausbau im Einsatz.
Nach der Demontage konnte das System nicht erneut vollständig in Betrieb genommen oder geprüft werden, da hierfür erforderliche Systemkomponenten wie Computer, Software und weitere Peripherie nicht vorhanden sind.
Aus diesem Grund wird das Gerät als gebrauchtes Laborgerät mit unbekanntem technischem Gesamtzustand verkauft.
Optisch befindet sich das Gerät in einem gebrauchten Zustand mit den üblichen alters- und nutzungsbedingten Gebrauchsspuren.
Das Gerät eignet sich insbesondere für Forschungseinrichtungen, Universitäten, Industrieunternehmen oder Fachbetriebe, die bereits über kompatible Systemkomponenten verfügen oder ein entsprechendes Projekt realisieren möchten.
 
Technische Daten
Merkmal
Beschreibung
Hersteller
JEOL Ltd.
Modell
JSM-6480LV
Gerätetyp
Rasterelektronenmikroskop (SEM)
Baujahr
2005
Herstellungsland
Japan
Netzspannung
100–110 V
Frequenz
50/60 Hz
Leistungsaufnahme
max. 3,0 kVA
Max. Stromaufnahme
30 A
Startstrom
max. 70 A
Kühlwasserbedarf
ca. 2 l/min
CE-Kennzeichnung
vorhanden
 
 
Typische Einsatzbereiche
Materialwissenschaft
Werkstoffprüfung
Metallographie
Qualitätskontrolle
Halbleitertechnik
Nanotechnologie
Universitäten
Forschungseinrichtungen
Industrie
Elektronik
 
 
Zustand
Gebraucht.
Der Artikel befindet sich in einem gebrauchten Zustand.
Alters- und nutzungsbedingte Gebrauchsspuren wie Kratzer, Verschmutzungen, Verfärbungen oder sonstige Gebrauchsspuren sind vorhanden bzw. können vorhanden sein.
Der tatsächliche Zustand entspricht den Produktbildern.
 
Technischer Zustand
Das Gerät stammt nach Angaben des Vorbesitzers aus einem laufenden Laborbetrieb und war bis zum Ausbau in Verwendung.
Eine erneute Inbetriebnahme sowie eine vollständige Funktionsprüfung waren aufgrund der fehlenden Systemperipherie (u. a. Computer, Software und weiterer Komponenten) nicht möglich.
Eine Aussage zur uneingeschränkten Funktionsfähigkeit sämtlicher Gerätefunktionen kann daher nicht getroffen werden.
 
Lieferumfang
Im Lieferumfang enthalten sind ausschließlich:
JEOL JSM-6480LV Rasterelektronenmikroskop
Original-Bedienpanel
Anschluss- und Verbindungskabel gemäß Produktbildern
Nicht im Lieferumfang enthalten sind insbesondere:
Computer
Software
Softwarelizenz
Dongle
Bedienungsanleitung
weiteres Zubehör, sofern nicht ausdrücklich beschrieben oder auf den Produktbildern ersichtlich
 
 
Wichtige Hinweise
Das Gerät wird als gebrauchtes Laborgerät verkauft.
Vor einer erneuten Inbetriebnahme sollte das System entsprechend der vorgesehenen Anwendung durch qualifiziertes Fachpersonal überprüft werden.
Eine Wartung, Kalibrierung, sicherheitstechnische Prüfung oder Zertifizierung wurde nicht durchgeführt, sofern dies nicht ausdrücklich angegeben ist.
Aufgrund der Größe und Empfindlichkeit des Geräts wird eine Abholung empfohlen. Ein Versand ist nach vorheriger Absprache möglich.
 
Hinweis zum Gebrauchtgerät
Es handelt sich um einen gebrauchten Artikel aus Industrie- bzw. Laborbestand.
Alters- und nutzungsbedingte Gebrauchsspuren stellen keinen Sachmangel dar.
Bitte beachten Sie die Produktbilder, da diese Bestandteil der Artikelbeschreibung sind.
Verkauft wird ausschließlich der in der Artikelbeschreibung aufgeführte bzw. auf den Produktbildern ersichtliche Lieferumfang.